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半導體

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  • 上海知明LNOI/LTOI晶圓:新一代光電集成核心材料

    LNOI(Lithium Niobate on Insulator)和LTOI(Lithium Tantalate on Insulator)晶圓是通過離子切片技術將單晶鈮酸鋰(LiNbO?)或鉭酸鋰(LiTaO?)薄膜與絕緣層集成的功能性襯底,兼具高電光系數、超低光學損耗和寬波段透明特性,是高速光調制器、量子光源及微波光子器件的理想載體。


LNOI/LTOI晶圓:“超高電光效率·超低傳輸損耗·重新定義光子集成極限”


LNOI/LTOI晶圓通過異質集成技術實現亞微米級單晶薄膜(300-800nm)與SiO?絕緣層的結合,電光系數達30 pm/V(硅的40倍),光學損耗<0.2 dB/cm@1550nm,支持>100GHz調制帶寬。其在光通信、量子計算、激光雷達等領域具有不可替代性,公司提供4/6英寸標準化晶圓及定制化解決方案,助力客戶突破性能瓶頸。
 


LNOI/LTOI晶圓特性與典型應用

1. 高電光效率
LTOI晶圓通過精確的晶體取向控制(X-cut或Z-cut)和優(yōu)化的電極設計,實現25 pm/V的超高電光系數,是硅基材料的30倍。這一特性使其成為80Gbps高速光調制器的核心材料,在400G/800G光通信模塊中,可實現>100GHz的帶寬和<2V·cm的半波電壓,顯著提升數據中心的光互連密度和能效比。








2. 低傳輸損耗
采用先進的波導制備工藝(如離子束刻蝕),LTOI晶圓在1550nm通信波段實現<0.3 dB/cm的超低傳播損耗。結合錐形耦合結構,光纖-芯片耦合損耗可控制在<0.5dB/端,使長距離光通信系統(tǒng)的無中繼傳輸距離延長至>100km,同時保持信號完整性。






3. 寬光譜透明
通過能帶工程調控,LTOI晶圓在500-5000nm寬光譜范圍內保持>90%的透光率。在中紅外氣體傳感應用中,對CO2(4.3μm)、CH4(3.3μm)等特征吸收峰的檢測靈敏度可達ppb級,適用于工業(yè)排放監(jiān)測和醫(yī)療診斷。





 



4. 高穩(wěn)定性
采用特殊的抗光折變摻雜技術(如MgO摻雜),LTOI晶圓在>1MW/cm²的高功率激光照射下仍保持穩(wěn)定的折射率(Δn<10??),器件壽命提升至10年以上,滿足高可靠性激光系統(tǒng)的需求。








 


 

LNOI/LTOI晶圓技術協(xié)同方案

1. 硅基光電異質集成

開發(fā)低溫等離子活化鍵合工藝(<300℃),實現LTOI與CMOS硅光芯片的晶圓級集成。集成后的調制器兼具鉭酸鋰的高電光系數(25 pm/V)和硅波導的低損耗(<0.5 dB/cm)優(yōu)勢,調制效率提升20倍。



2. 復合氮化硅光路平臺

采用納米級對準技術,構建LTOI-Si?N?混合波導。其中Si?N?波導負責低損耗傳輸(<0.1dB/cm),LTOI區(qū)域實現高效電光調制(VπL<2 V·cm),同時利用χ?²?非線性效應實現波長轉換等功能。



3. III-V族激光器協(xié)同封裝

基于倒裝焊和微透鏡陣列技術,實現LTOI調制器與DFB激光器芯片的高效耦合(損耗<1dB)。集成模塊的體積<1cm³,功耗降低50%,適用于CPO(共封裝光學)等先進光互連架構。



4. 柔性光電系統(tǒng)應用

通過激光剝離和轉印技術,將LTOI功能層(厚度<5μm)與柔性基底集成,彎曲半徑<5mm時性能衰減<5%。該技術已應用于可穿戴健康監(jiān)測設備,實現心率、血氧等生理參數的高精度檢測。


 



知明服務


1、晶圓定制:支持薄膜厚度(200-1200nm)、晶向(X/Y切型)定制

2、微納加工:提供<150nm線寬的干法刻蝕服務

3、測試支持:晶圓級電光參數測試平臺

4、技術咨詢:提供PDK設計套件與流片指導


 

 
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